CC41L
产品特性
•无外包封层，适合于表面贴装；
•介质为Ⅰ类瓷介，频率特性好，电容量稳定性高；
•产品每批进行100%温度冲击筛选和高温电负荷筛选；
•适用于各类军用电子设备中的谐振回路、耦合电路及要求低损耗、容值稳定性高和绝缘电阻高的电路中。
品牌对比
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订货示例
G |
CC41L |
0805 |
CG |
50V |
101 |
J |
质量等级 |
型号 |
外形尺寸 |
温度系数 |
额定电压 |
标称容量 |
容差 |
见下表 |
Ⅰ类多层瓷介电容器 |
见下表 |
CG: 0±30ppm/℃ |
直标法 50V |
数标法，101为100pF |
见下表 |
质量等级及执行标准对照表
质量等级 |
质量等级代号 |
执行详细规范 |
参照执行总规范 |
七专加严 |
G+ |
QJ/PWV448-2012 |
QZJ840624瓷介电容器 “七专”技术条件 |
七专 |
G |
QZJ840624瓷介电容器 “七专”技术条件 |
|
普军 |
J |
GJB192A-1998 |
温度系数
温度系数代码 |
标称温度系数 |
工作温度范围 |
CG |
0±30ppm/℃ |
-55℃ – +125℃ |
CH |
0±60ppm/℃ |
电容量允许偏差
标称电容量范围 |
允许偏差范围 |
代码 |
CR < 10pF |
±0.10pF |
B |
±0.25pF |
C |
|
±0.50pF |
D |
|
CR ≥ 10pF |
±2% |
G |
±5% |
J |
|
±10% |
K |
主要性能指标
项目 |
测试条件 |
性能指标 |
电容量 CR |
测试频率: CR ≤ 1000pF, (1±0.1)MHz |
CR ≥ 50pF: tg δ ≤ 15 x10-4; |
损耗角正切 tg δ |
||
绝缘电阻 IR |
测试电压: 额定电压 UR; |
CR ≤ 10000pF, IR ≥ 1x104MΩ |
耐电压 |
测试电压: 2.5UR; |
无击穿、飞孤和可见性损伤 |
尺寸代号 |
外形尺寸 (mm) |
||
L |
W |
T (max) |
|
0402 |
1.00±0.15 |
0.50±0.05 |
0.55 |
0603 |
1.60±0.15 |
0.80±0.15 |
0.95 |
0805 |
2.00±0.20 |
1.25±0.20 |
1.40 |
1206 |
3.20±0.30 |
1.60±0.30 |
1.90 |
1210 |
3.20±0.40 |
2.50±0.30 |
2.80 |
1812 |
4.50±0.50 |
3.20±0.40 |
3.50 |
2220 |
5.70±0.50 |
5.00±0.50 |
5.20 |
2225 |
5.70±0.50 |
6.30±0.50 |
6.20 |
CG、CH产品系列容量列表
