CCK41
产品特性
•片式无包封，适合于表面贴装；
•I类瓷介，介电常数高，电容器容量大；
•每批100%进行温度冲击和电压处理；
•适用于各类军用电子设备中的谐振回路、高频旁路、高频耦合电路以及要求低损耗、电容量稳定和高绝缘电阻要求的电路。
品牌对比
Close
订货示例
CCK41 |
0805 |
BC |
50V |
101 |
J |
Z |
M |
型号 |
外形尺寸 |
温度系数 |
额定电压 |
标称容量 |
容差 |
端电极 |
失效率等级 |
I类多层瓷介电容器
|
见下表 |
0±30ppm/℃ |
直标法50V |
数标法，101为100pF |
见下表 |
基本金属化-金属屏蔽层-锡（锡/铅合金，至少含3%铅） |
五级 |
质量等级及执行标准对照表
质量等级 |
执行详细规范 |
参照执行总规范 |
国军标 |
ZZR-Q/PWV20023-2014 |
GJB192B-2011 |
温度系数
代号 |
相对25 ℃的电容量变化 |
BC |
0±30ppm/℃ |
电容量允许偏差
标称电容量范围 |
允许偏差范围 |
代码 |
CR < 10pF |
±0.25pF |
C |
±0.50pF |
D |
|
CR ≥ 10pF |
±5% |
J |
±10% |
K |
主要性能指标
项目 |
测试条件 |
性能指标 |
电容量 |
测试频率: CR ≤ 1000pF, (1±0.1)MHz; |
tg δ ≤ 15x10-4 |
损耗角正切 tgδ |
||
绝缘电阻 IR |
测试电压: 额定电压 UR; |
IR ≥ 1x105MΩ 或 1000MΩ・μF取较小者 |
耐电压 |
测试电压: 2.5UR; 测试时间: 5s±1s |
无击穿、飞孤和可见性损伤 |
尺寸代号 |
外形尺寸 (mm) |
|||
L |
W |
T max |
B |
|
0402 |
1.00±0.10 |
0.50±0.05 |
0.55 |
0.25±0.10 |
0603 |
1.60±0.15 |
0.80±0.15 |
1.00 |
0.40±0.20 |
0805 |
2.00±0.20 |
1.25±0.20 |
1.50 |
0.50±0.20 |
1206 |
3.20±0.20 |
1.60±0.20 |
1.80 |
0.50±0.20 |
1210 |
3.20±0.30 |
2.50±0.30 |
2.80 |
0.50±0.25 |
1812 |
4.50±0.30 |
3.20±0.30 |
3.50 |
0.50±0.25 |
2220 |
5.70±0.40 |
5.00±0.40 |
5.10 |
0.90±0.50 |
2225 |
5.70±0.40 |
6.50±0.40 |
5.10 |
0.90±0.50 |
产品系列容量列表
