CC4

军用径向引线式多层瓷介电容器

产品特性

•圆形引线径向引出,环氧树脂涂覆包封,适合于印刷线路板插装;
•介质为Ⅰ类瓷介,频率特性好,电容量稳定性高;
•产品每批进行100%温度冲击筛选和高温电负荷筛选;
•适用于各类军用电子设备中的谐振回路、耦合电路及要求低损耗、容值稳定性高和绝缘电阻高的电路中。

品牌对比

C(KEMET), SK(AVX), CC4(火炬), CC4(元六)

Close

图片名称
产品标准 尺寸 参数表 样品申请 技术问答

 

订货示例

G+

CC4

SR20

CG

50V

101

J

质量等级

型号

外形尺寸

温度特性

额定电压

标称容量

容差

见下表

Ⅰ类多层瓷介电容器

见下表

CG:0±30ppm/℃
CH: 0±60ppm/℃
-55℃ – +125℃

直标法50V

数标法,
101为100pF

见下表

 

质量等级及执行标准对照表

质量等级

质量等级代号

执行详细规范

参照执行总规范

七专加严

G+

QJ/PWV413–2012

QZJ840624瓷介电容器 “七专”技术条件

七专

G

QJ/PWV417–2012

QZJ840624瓷介电容器 “七专”技术条件

军筛

S

QJ/PWV403–2010

GJB468 – 1988

普军

J

QJ/PWV421–2012

GJB468 – 1988

 

温度系数

温度系数代码

标称温度系数

工作温度范围

CG

0±30ppm/℃

-55℃ – +125℃

CH

0±60ppm/℃

 

允许偏差

标称电容量范围

允许偏差范围

代码

CR < 10pF

±0.25pF

C

±0.5pF

D

CR ≥ 10pF

±5%

J

±10%

K

 

主要性能指标

项目

测试条件

性能指标

电容量 CR

测试频率:
CR ≤ 1000pF, (1±0.1)MHz;
CR > 1000pF, (1±0.1)KHz
测试电压: (1±0.2)V

CR ≥ 50pF, tg δ ≤15x10-4;
CR < 50pF, tg δ ≤ 1.5x(150/CR+7)x10-4

损耗角正切 tg δ

绝缘电阻 IR

测试电压:
UR ≥ 500V: 500V
UR < 500V: UR
测试时间: 60s±5s

UR < 250V : 
IR ≥ 1 x105MΩ 或 1000MΩ・μF, 取较小者.
UR ≥ 250V:
IR ≥ 1 x104

耐电压

测试电压: 
UR ≤ 250V: 2.5UR;
250V < UR < 1000V: 1.5UR;
UR ≥ 1000V: 1.2UR
测试时间: 5s±1s

无击穿、飞弧和可见性损伤

CC4型军用径向引线式多层瓷介电容器

 

尺寸代号

外形尺寸 (mm)

L max

W max

T max

H

F±1

φd±0.05

SR20

5.5

5.5

5.0

5–20

2.5

0.5

SR21

5.5

5.5

5.0

5.0

0.5

SR30

7.6

7.6

6.0

5.0

0.5

SR40

10.2

10.2

6.0

5.0

0.5

容量列表

CC4型军用径向引线式多层瓷介电容器

操作
提交申请
提 交